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轉載-生活新聞-宜特與iNEMI發表預防電路板爬行腐蝕現象建議
鉅亨網 - 2012年7月24日 下午5:25
IC驗證宜特(3289-TW)今(24)日宣佈,與國際電子生產商聯盟(iNEMI)中的成員,共同研究電路板Creep Corrosion爬行腐蝕有所成果,掌握到Creep Corrosion現象的影響因素與預防方式,該研究初步結果也由iNEM發佈「指南說明書」,針對資料中心和電信機房的溫度、濕度和污染性氣體提出控制建議,以避免印刷電路板因Creep Corrosion而造成失效。
所謂Creep Corrosion,是指腐蝕產物(主要為硫化銅)在不需電場的環境下,從電路板銅pad的表面隨著腐蝕嚴重性增強,進而向四周遷移生長的過程。
宜特表示,經觀察發現,環境日漸惡化,空氣中瀰漫更多的硫化物,電子產品系統、電路板、連接器與元件產生爬行腐蝕現象,甚至使電子產品提前失效,影響產品的壽命與可靠度。
國際各大品牌大廠包括IT系統大廠思科、戴爾、惠普、華為、IBM、Intel與安捷倫、阿爾卡特-朗訊、DFR、陶氏化學以及宜特,皆在2009年起開始於iNEMI組成爬行腐蝕研究團隊,期望共同研究找出Creep Corrosion的主要影響因素。
iNEMI表示,由於先前業界尚未針對測試方法、實驗條件達成一致共識,來模擬環境條件和預測可能的失效模式,不過,經 3 年多研究,提出
所謂Creep Corrosion,是指腐蝕產物(主要為硫化銅)在不需電場的環境下,從電路板銅pad的表面隨著腐蝕嚴重性增強,進而向四周遷移生長的過程。
宜特表示,經觀察發現,環境日漸惡化,空氣中瀰漫更多的硫化物,電子產品系統、電路板、連接器與元件產生爬行腐蝕現象,甚至使電子產品提前失效,影響產品的壽命與可靠度。
國際各大品牌大廠包括IT系統大廠思科、戴爾、惠普、華為、IBM、Intel與安捷倫、阿爾卡特-朗訊、DFR、陶氏化學以及宜特,皆在2009年起開始於iNEMI組成爬行腐蝕研究團隊,期望共同研究找出Creep Corrosion的主要影響因素。
iNEMI表示,由於先前業界尚未針對測試方法、實驗條件達成一致共識,來模擬環境條件和預測可能的失效模式,不過,經 3 年多研究,提出
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